膜厚的表示形式
现在显示光学膜厚度和物理膜厚度。
物理厚度的单位可以选择为nm和Å。
光学厚度的单位可以选择为nd/λ(FWOT)或QWOT。
张数
主窗口的座位数增加到20个。
最适化
您现在可以将颜色设置为目标。
在初期设计可以选择Stack。
它现在显示needle search的优化历史记录。
制造误差
您现在可以设置每个图层的更改量。
现在可以在正常(高斯)分布的情况下进行计算。
由单层膜的测定数据来对n・k的分散做解析
可以设置分析波长范围。
请在波长范围过宽时使用，或者排除测量精度较差的波长。
此外，有些情况下，在以前的版本中无法进行分析，但我们对其进行了改进，以便尽可能地进行分析。
高分辨率显示兼容 4K ready!
即使是具有高分辨率显示的字符也不会模糊。 根据Windows缩放设置缩放字符。
您还可以设置字体和字体大小。
基板和薄膜的层压计算(Stack)
现在可以计算多个基板。
您现在可以记录基板的内部透射率。
Project的保存・读取
在主窗口各Sheet上表示的膜数据或窗口的配置、曲线图的书写格式和用户系统等现在的状况都会以Project保存在档案里，读取保存的Project档案时，这些状态就会被复原。
设计数据编辑
您现在可以通过选择单元格范围进行复制/粘贴。
可以一次插入/删除多个图层。
添加膜材料数据
添加了京都薄膜材料研究所(Kyoto Thin-Film Materials institute)的蒸发材料数据。
Al2O3(KTM), HfO2(KTM), LaF3(KTM), Ti3O5(KTM), ZrO2(KTM), ZRT2(KTM)
还添加了许多其他功能。
版本3.0.2到3.0.4中的错误修正和改进
修复了设置多个波长范围时只有第一个波长范围有效的错误，并且在读取项目文件时发生错误。
在制造误差分析中，当ΔT，Δn，Δk的所有单位都被设置为σ：标准偏差时，出现错误的问题已得到纠正。
当在制造误差分析中ΔT增加时，当膜厚度为负时，膜厚度被改善为计算为0。
改进使得Y轴标题和Y轴刻度的字符在波长图和入射角图中不重迭。
版本3.0.1到3.0.2中的错误修正和改进
Stack
修复了在为多个面指定相同的图纸设计时未正确计算的错误。
修复了导致3D图形和颜色计算错误的错误。
其他
在高分辨率显示环境中进行微调。